Euclid: VI. NISP-P optical ghosts

Null, Null; Paterson, K.; Schirmer, M.; Okumura, K.; Venemans, B.; Jahnke, K.; Aghanim, N.; Altieri, B.; Amara, A.; Andreon, S.; Baccigalupi, C.; Baldi, M.; Balestra, A.; Bardelli, S.; Battaglia, P.; Biviano, A.; Bonchi, A.; Branchini, E.; Brescia, M.; Brinchmann, J.; Camera, S.; Cañas-Herrera, G.; Capobianco, V.; Carretero, J.; Casas, S.; Castellano, M.; Castignani, G.; Cavuoti, S.; Chambers, K. C.; Cimatti, A.; Colodro-Conde, C.; Congedo, G.; Conselice, C. J.; Conversi, L.; Copin, Y.; Courbin, F.; Courtois, H. M.; Da Silva, A.; Da Silva, R.; Degaudenzi, H.; De Lucia, G.; Di Giorgio, A. M.; Dinis, J.; Dole, H.; Dubath, F.; Dupac, X.; Dusini, S.; Ealet, A.; Escoffier, S.; Farina, M.; Farinelli, R.; Faustini, F.; Ferriol, S.; Finelli, F.; Fotopoulou, S.; Fourmanoit, N.; Frailis, M.; Franceschi, E.; Franzetti, P.; Galeotta, S.; George, K.; Gillard, W.; Gillis, B.; Giocoli, C.; Gracia-Carpio, J.; Granett, B. R.; Grazian, A.; Grupp, F.; Guzzo, L.; Haugan, S. V. H.; Hoekstra, H.; Holmes, W.; Hormuth, F.; Hornstrup, A.; Hudelot, P.; Jhabvala, M.; Keihänen, E.; Kermiche, S.; Kiessling, A.; Kohley, R.; Kubik, B.; Kümmel, M.; Kunz, M.; Kurki-Suonio, H.; Le Brun, A. M. C.; Le Mignant, D.; Ligori, S.; Lilje, P. B.; Lindholm, V.; Lloro, I.; Mainetti, G.; Maino, D.; Maiorano, E.; Mansutti, O.; Marcin, S.; Marggraf, O.; Markovic, K.; Martinelli, M.; Martinet, N.; Marulli, F.; Massey, R.; Mccracken, H. J.; Medinaceli, E.; Mei, S.; Meneghetti, M.; Merlin, E.; Meylan, G.; Mora, A.; Moresco, M.; Moscardini, L.; Nakajima, R.; Neissner, C.; Nichol, R. C.; Niemi, S. -M.; Nightingale, J. W.; Padilla, C.; Paltani, S.; Pasian, F.; Pedersen, K.; Percival, W. J.; Pettorino, V.; Pires, S.; Polenta, G.; Poncet, M.; Popa, L. A.; Pozzetti, L.; Raison, F.; Rebolo, R.; Renzi, A.; Rhodes, J.; Riccio, G.; Romelli, E.; Roncarelli, M.; Rossetti, E.; Saglia, R.; Sakr, Z.; Sánchez, A. G.; Sapone, D.; Sartoris, B.; Schewtschenko, J. A.; Schneider, P.; Schrabback, T.; Secroun, A.; Sefusatti, E.; Seidel, G.; Seiffert, M.; Serrano, S.; Simon, P.; Sirignano, C.; Sirri, G.; Stanco, L.; Steinwagner, J.; Tallada-Crespí, P.; Tavagnacco, D.; Taylor, A. N.; Tereno, I.; Toft, S.; Toledo-Moreo, R.; Torradeflot, F.; Tutusaus, I.; Valenziano, L.; Valiviita, J.; Vassallo, T.; Kleijn, G. Verdoes; Veropalumbo, A.; Wang, Y.; Weller, J.; Zacchei, A.; Zamorani, G.; Zinchenko, I. A.; Zucca, E.; Allevato, V.; Ballardini, M.; Bolzonella, M.; Bozzo, E.; Burigana, C.; Cabanac, R.; Calabrese, M.; Casenove, P.; Di Ferdinando, D.; Vigo, J. A. Escartin; Gabarra, L.; Matthew, S.; Mauri, N.; Metcalf, R. B.; Nucita, A. A.; Pezzotta, A.; Pöntinen, M.; Porciani, C.; Scottez, V.; Tenti, M.; Viel, M.; Wiesmann, M.; Akrami, Y.; Andika, I. T.; Anselmi, S.; Archidiacono, M.; Atrio-Barandela, F.; Bertacca, D.; Bethermin, M.; Blanchard, A.; Blot, L.; Borgani, S.; Brown, M. L.; Bruton, S.; Calabro, A.; Cappi, A.; Caro, F.; Carvalho, C. S.; Castro, T.; Chary, R.; Cogato, F.; Conseil, S.; Cooray, A. R.; Cucciati, O.; Davini, S.; De Paolis, F.; Desprez, G.; Díaz-Sánchez, A.; Di Domizio, S.; Diego, J. M.; Dimauro, P.; Enia, A.; Fang, Y.; Ferguson, A. M. N.; Ferrari, A. G.; Finoguenov, A.; Franco, A.; Ganga, K.; García-Bellido, J.; Gasparetto, T.; Gautard, V.; Gaztanaga, E.; Giacomini, F.; Gianotti, F.; Gozaliasl, G.; Gregorio, A.; Guidi, M.; Gutierrez, C. M.; Hall, A.; Hartley, W. G.; Hemmati, S.; Hernández-Monteagudo, C.; Hildebrandt, H.; Hjorth, J.; Kajava, J. J. E.; Kang, Y.; Kansal, V.; Karagiannis, D.; Kiiveri, K.; Kirkpatrick, C. C.; Kruk, S.; Le Graet, J.; Legrand, L.; Lembo, M.; Lepori, F.; Leroy, G.; Lesgourgues, J.; Leuzzi, L.; Liaudat, T. I.; Liu, S. J.; Loureiro, A.; Macias-Perez, J.; Maggio, G.; Magliocchetti, M.; Mannucci, F.; Maoli, R.; Martín-Fleitas, J.; Martins, C. J. A. P.; Maurin, L.; Miluzio, M.; Monaco, P.; Montoro, A.; Moretti, C.; Morgante, G.; Nadathur, S.; Naidoo, K.; Natoli, P.; Navarro-Alsina, A.; Nesseris, S.; Passalacqua, F.; Patrizii, L.; Pisani, A.; Potter, D.; Quai, S.; Radovich, M.; Reimberg, P.; Risso, I.; Sacquegna, S.; Sahlén, M.; Sarpa, E.; Schneider, A.; Schultheis, M.; Sciotti, D.; Sellentin, E.; Sereno, M.; Shulevski, A.; Smith, L. C.; Stadel, J.; Tanidis, K.; Tao, C.; Testera, G.; Teyssier, R.; Tosi, S.; Troja, A.; Tucci, M.; Valieri, C.; Venhola, A.; Vergani, D.; Verza, G.; Vielzeuf, P.; Walton, N. A.

doi:10.1051/0004-6361/202555106

The Near-Infrared Spectrometer and Photometer (NISP) on board Euclid includes several optical elements in its path that introduce artefacts into the data from non-nominal light paths. To ensure uncontaminated source photometry, these artefacts must be accurately accounted for. This paper focuses on two specific optical features in NISP's photometric data (NISP-P): ghosts caused by the telescope's dichroic beamsplitter, and the bandpass filters within the NISP fore-optics. Both ghost types exhibit a characteristic morphology and are offset from the originating stars. The offsets are well modelled using 2D polynomials; only stars brighter than approximately 10 magnitudes in each filter produce significant ghost contributions. The masking radii for these ghosts depend on both the source-star brightness and the filter wavelength, ranging from 20 to 40 pixels. We present the final relations and models used in the near-infrared (NIR) processing function (PF) to mask these ghosts for Euclid's Quick Data Release (Q1).